X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司對復(fù)雜成份、多類型櫚中元素的快速、準(zhǔn)確分析。該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測元素，對Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測試時(shí)間短，大大提高了檢測效率和工作效率； 采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比； 采用自動穩(wěn)譜裝置，了儀器工作的一致性； 利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度；采用相似自動分類技術(shù)使分類更準(zhǔn)確，有效地克服基效應(yīng)對測量帶來的影響；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的消除。

x熒光光譜儀樣品種類樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
（1）固體塊狀樣品包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等，其中金屬材料占了很大的比例。
（2）粉末樣品包括各種礦產(chǎn)品，水泥及其原材料，金屬冶煉的原材料和副產(chǎn)品如鐵礦石、煤、爐渣等；還有巖石土壤等。
（3）液體樣品油類產(chǎn)品、水質(zhì)樣品以及通過化學(xué)方法將固體轉(zhuǎn)換成的溶液等

x熒光光譜儀使用中常見的問題及注意事項(xiàng)
1、過濾時(shí)有時(shí)會出現(xiàn)流動相漏液?？赡艿脑蚴菫V膜放置不正確和接頭有點(diǎn)錯(cuò)位，導(dǎo)致流動相從縫隙中漏出。
注意：操作時(shí)，應(yīng)先向?yàn)V瓶內(nèi)倒入少量流動相，觀察是否漏液并開始過濾，若未漏液，再向?yàn)V瓶中添加流動相。
2、超聲時(shí)，瓶外液體的液面應(yīng)瓶內(nèi)流動相的液面，否則流動相內(nèi)的氣體可能無法排出液體，氣體仍然殘留在流動相內(nèi)，以致開機(jī)排氣時(shí)無氣泡排出。
3、開機(jī)排氣結(jié)束后，應(yīng)先將流動相流量調(diào)小，再關(guān)閉排氣閥，否則會導(dǎo)致柱壓瞬間升高超過壓力上限，致使泵停止工作。
4、反相LC液相色譜儀沖洗柱子時(shí)，應(yīng)盡量避免使用純水流動相沖洗柱子，因?yàn)樗詮?qiáng)，會損害色譜柱，導(dǎo)致柱效下降。
5、沖洗色譜柱時(shí)，還可以不同比例的混合流動相沖洗色譜柱，以沖出不同性的殘留物質(zhì)，但還是要用純有機(jī)流動相沖洗色譜柱一段時(shí)間。
6、在實(shí)驗(yàn)過程中會出現(xiàn)壓力超過上限或壓力偏高，有可能是柱內(nèi)有殘留物質(zhì)未被沖出，此時(shí)應(yīng)用較大流速的有機(jī)流動相充分沖洗色譜柱。若條件允許，也可采用梯度洗脫的方式?jīng)_洗色譜柱。壓力過高也有可能是濾頭堵塞，此時(shí)可將濾頭取出放到中超聲。
7、若隔天或更長時(shí)間不使用LC液相色譜儀，應(yīng)將兩流動相瓶中均倒入純的有機(jī)流動相（因?yàn)樗鲃酉嚅L時(shí)間不用會滋生，污染濾頭和色譜柱，導(dǎo)致下次開機(jī)使用時(shí)會出現(xiàn)鬼峰，基線不穩(wěn)）。
8、進(jìn)樣時(shí)所進(jìn)樣品的體積應(yīng)不小于色譜柱的容積，且進(jìn)樣時(shí)器里的氣泡一定要排出，不可將氣泡打進(jìn)色譜柱。

作為一種比較成熟的成分分析手段，X熒光光譜儀分析在冶金、地質(zhì)、環(huán)境、化工、材料等領(lǐng)域中應(yīng)用非常廣泛。X熒光光譜儀分析的對象主要是塊狀固體、粉末、液體三種，其中，固體粉末是分析得多的一種。因?yàn)楹芏嘣嚇尤缢?、煤、灰塵等本身就是粉末，對于形狀不規(guī)則的塊狀固體，如各種礦石，由于直接分析技術(shù)目前還不成熟，往往也粉碎成粉末。液體試樣可放入液體樣品杯中分析，但由于不能抽真空等原因，有時(shí)將液體轉(zhuǎn)變?yōu)楣腆w，一些預(yù)分離、富集的結(jié)果也常是粉末，因此，粉末試樣的制樣技術(shù)是X熒光光譜儀分析中的重要一部分。

將Ｘ射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井這項(xiàng)技術(shù)的到之處在于：通過巖屑化學(xué)元素組合特征的分析來識別巖性，再通過巖性的組合特征分析來判斷層位，因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。
真空形成條件及高靈敏半導(dǎo)體探測器保障對巖心中的元素具有的檢出限，為錄井平臺提供更有意義的具體數(shù)據(jù)特征；更寬的元素檢出范圍滿足多種元素的同時(shí)檢測需求；同時(shí)引入了目前的4096道數(shù)字多道技術(shù)，采用進(jìn)口超薄鈹窗有高激發(fā)效率的X射線管，使儀器計(jì)數(shù)率更高，穩(wěn)定性更好，適用面更廣；
優(yōu)化了光路結(jié)構(gòu)、軟硬件可靠性，真空腔體使之性能更好、更便攜；
特的抗震性設(shè)計(jì)，高保護(hù)光路設(shè)計(jì)使得該儀器通過了第三方機(jī)構(gòu)高低溫、高低頻電動振動及濕熱等使用認(rèn)證；
在現(xiàn)場測試、在線檢測以及各類地質(zhì)勘察多元素檢測中充分發(fā)揮作用。

X熒光光譜儀分析方法是一個(gè)相對分析方法，任何制樣過程和步驟有非常好的重復(fù)操作可能性，所以用于制作標(biāo)準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品經(jīng)過同樣的制樣處理過程。X 射線熒光實(shí)際上又是一個(gè)表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，注意分析面相對于整個(gè)樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經(jīng)過多步驟操作，還防止樣品的損失和沾污。