電子元器件高低溫循環檢測_廣東高低溫試驗檢測機構
產品別名 |
第三方檢測機構,高低溫循環檢測,廣東第三方可靠性測試 |
面向地區 |
全國 |
電子元器件低溫存儲壽命試驗
實驗目的
為了考核低溫對試樣的影響,確定電子元器件在低溫條件下存儲的適應性。該實驗一般用到高低溫試驗箱。
實驗原理
低溫下電子元器件的電參數會發生變化、材料變脆及其材料冷縮產生應力等。使電子元器件處于低溫環境下一定時間,考核電子元器件的電參數是否發生變化、材料是否變脆、材料冷縮產生應力有多大等,從而確定電子元器件的抗低溫能力。
實驗參考標準
JESD22-A119
IEC60068-2-1
GJB1864A-2011
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