關(guān)鍵詞 |
edx光譜分析儀,光電直讀光譜儀維修,pda光電直讀光譜儀,光譜儀全譜直讀 |
面向地區(qū) |
全國 |
測量對象 |
硅含量 |
電源電壓 |
220v |
類型 |
金屬元素分析儀器 |
直讀光譜儀,英文名為OES(Optical Emission Spectrometer),即原子發(fā)射光譜儀。二戰(zhàn)后,由于歐洲重建,市場對鋼鐵檢測有的需求,也促進(jìn)了相關(guān)檢測儀器的發(fā)展。六十年代光電直讀光譜儀,隨著計算機(jī)技術(shù)的發(fā)展開始迅速發(fā)展,由于計算機(jī)技術(shù)的發(fā)展,電子技術(shù)的發(fā)展,電子計算機(jī)的小型化及微處理機(jī)的出現(xiàn)和普及,成本降低等原因、于上世紀(jì)的七十年代光譜儀器幾乎地采用計算機(jī)控制,這不僅提高了分析精度和速度,而且對分析結(jié)果的數(shù)據(jù)處理和分析過程實現(xiàn)自動化控制。
光學(xué)多道分析儀OMA (Optical Multi-channel Analyzer)是近十幾年出現(xiàn)的采 用光子探測器(CCD)和計算機(jī)控制的新型光譜分析儀器,它集信息采集,處理, 存儲諸功能于一體使傳統(tǒng)的光譜技術(shù)發(fā)生了根本的改變,使用OMA分析光譜,測試準(zhǔn)確迅速,方便, 且靈敏度高,響應(yīng)時間快,光譜分辨率高,測量結(jié)果可立即從顯示屏上
管他叫直讀的原因是相對于攝譜儀和早期的發(fā)射光譜儀而言,由于在70年代以前還沒有計算機(jī)采用,所有的光電轉(zhuǎn)換出來的電流信號都用數(shù)碼管讀數(shù),然后在對數(shù)轉(zhuǎn)換紙上繪出曲線并求出含量值,計算機(jī)技術(shù)在光譜儀應(yīng)用后,所有的數(shù)據(jù)處理全部由計算機(jī)完成,可以直接換算出含量,所以比較形象的管它叫直接可以讀出結(jié)果,簡稱就叫直讀了,在國外沒有這個概念。
影響測量準(zhǔn)確度的因素
需定時對儀器進(jìn)行維護(hù)保養(yǎng),定期進(jìn)行檢定校準(zhǔn),使儀器處在一個非常良好的狀態(tài)對檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性至關(guān)重要。直讀光譜儀檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性對檢測工作至關(guān)重要,只有選擇正確的標(biāo)準(zhǔn)樣品,嚴(yán)格按照儀器使用說明書對儀器進(jìn)行使用和維護(hù)保養(yǎng),并考慮影響結(jié)果準(zhǔn)確性的因素,才能延長儀器的使用壽命,檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性。針對檢測過程中的影響因素進(jìn)行簡要分析。
氬氣流量和壓力大小決定了氬氣對放電表面的沖擊能力,若沖擊能力過低,不足以將試樣激發(fā)過程中產(chǎn)生的氣體和形成的化合物沖掉,會導(dǎo)致污物在電極周圍聚集,抑制試樣的繼續(xù)激發(fā),使放電不穩(wěn)定,造成擴(kuò)散放電,分析重復(fù)性差;若沖擊能力過大,易使火花產(chǎn)生跳動,同樣造成放電不穩(wěn)定,影響檢測結(jié)果同時造成氬氣的浪費(fèi)。
發(fā)射光譜分析用的激發(fā)電極要較好的分析精密度,電侵蝕要小,導(dǎo)電性要好,被分析的元素不應(yīng)在激發(fā)電極材料中。如果用碳做電極分析鐵基材料,容易影響碳含量的準(zhǔn)確度,因此在分析鐵基材料是一般采用銀或鎢。極間距的大小對分析精度是有很大影響,過大穩(wěn)定性差,又難于激發(fā),精度差。過小易激發(fā),電極凝聚物易增加,導(dǎo)致間距變小,影響分析精度,所以電極間距不能過大也不能過小,一般分析間隙采用4~5mm。
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