光電耦合器分為兩種：一種為非線性光耦，另一種為線性光耦。非線性光耦的電流傳輸特性曲線是非線性的，這類光耦適合于開(kāi)關(guān)信號(hào)的傳輸，不適合于傳輸模擬量。常用的4N系列光耦屬于非線性光耦。
線性光耦的電流傳輸特性曲線接近直線，并且小信號(hào)時(shí)性能較好，能以線性特性進(jìn)行隔離控制。常用的線性光耦是PC817A—C系列。

按封裝形式分，可分為同軸型，雙列直插型，TO封裝型，扁平封裝型，貼片封裝型，以及光纖傳輸型
按傳輸信號(hào)分，可分為數(shù)字型光電耦合器（OC門(mén)輸出型，圖騰柱輸出型及三態(tài)門(mén)電路輸出型等）和線性光電耦合器（可分為低漂移型，高線性型，寬帶型，單電源型，雙電源型等）。
按速度分，可分為低速光電耦合器（光敏三極管、光電池等輸出型）和高速光電耦合器（光敏二極管帶信號(hào)處理電路或者光敏集成電路輸出型）。
按通道分，可分為單通道，雙通道和多通道光電耦合器。
按隔離特性分，可分為普通隔離光電耦合器（一般光學(xué)膠灌封低于5000V，空封低于2000V）和高壓隔離光電耦合器（可分為10kV，20kV，30kV等）。
按工作電壓分，可分為低電源電壓型光電耦合器（一般5～15V）和高電源電壓型光電耦合器（一般大于30V）。

四、傳輸特性：
1．電流傳輸比CTR（Current Transfer Radio）
2．上升時(shí)間Tr （Rise Time）& 下降時(shí)間Tf（Fall Time）
其它參數(shù)諸如工作溫度、耗散功率等不再一一敷述。

三、隔離特性
1．入出間隔離電壓Vio（Isolation Voltage）
光耦合器輸入端和輸出端之間絕緣耐壓值。
2．入出間隔離電容Cio（Isolation Capacitance）：
光耦合器件輸入端和輸出端之間的電容值
3．入出間隔離電阻Rio：（Isolation Resistance）
半導(dǎo)體光耦合器輸入端和輸出端之間的絕緣電阻值。
以下為光電耦合器的常用參數(shù)：
反向電流IR：在被測(cè)管兩端加規(guī)定反向工作電壓VR時(shí)，二極管中流過(guò)的電流。
反向擊穿電壓VBR：被測(cè)管通過(guò)的反向電流IR為規(guī)定值時(shí)，在兩極間所產(chǎn)生的電壓降。
正向壓降VF：二極管通過(guò)的正向電流為規(guī)定值時(shí)，正負(fù)極之間所產(chǎn)生的電壓降。
正向電流IF：在被測(cè)管兩端加一定的正向電壓時(shí)二極管中流過(guò)的電流。結(jié)電容CJ：在規(guī)定偏壓下，被測(cè)管兩端的電容值。
反向擊穿電壓V(BR)CEO：發(fā)光二極管開(kāi)路，集電極電流IC為規(guī)定值，集電極與發(fā)射集間的電壓降。
輸出飽和壓降VCE(sat)：發(fā)光二極管工作電流IF和集電極電流IC為規(guī)定值時(shí)，并保持IC/IF≤CTRmin時(shí)（CTRmin在被測(cè)管技術(shù)條件中規(guī)定）集電極與發(fā)射極之間的電壓降。
反向截止電流ICEO：發(fā)光二極管開(kāi)路，集電極至發(fā)射極間的電壓為規(guī)定值時(shí)，流過(guò)集電極的電流為反向截止電流。
電流傳輸比CTR：輸出管的工作電壓為規(guī)定值時(shí)，輸出電流和發(fā)光二極管正向電流之比為電流傳輸比CTR。
脈沖上升時(shí)間tr,下降時(shí)間tf：光耦合器在規(guī)定工作條件下，發(fā)光二極管輸入規(guī)定電流IFP的脈沖波，輸出端管則輸出相應(yīng)的脈沖波，從輸出脈沖幅度的10%到90%，所需時(shí)間為脈沖上升時(shí)間tr。從輸出脈沖后沿幅度的90%到10%，所需時(shí)間為脈沖下降時(shí)間tf。
傳輸延遲時(shí)間tPHL,tPLH：從輸入脈沖幅度的50%到輸出脈沖電平下降到1.5V時(shí)所需時(shí)間為傳輸延遲時(shí)間tPHL。從輸入脈沖后沿幅度的50%到輸出脈沖電平上升到1.5V時(shí)所需時(shí)間為傳輸延遲時(shí)間tPLH。
入出間隔離電容CIO：光耦合器件輸入端和輸出端之間的電容值。
入出間隔離電阻RIO：半導(dǎo)體光耦合器輸入端和輸出端之間的絕緣電阻值。
入出間隔離電壓VIO：光耦合器輸入端和輸出端之間絕緣耐壓值.
CT Micro 的主要目標(biāo)是朝著零缺陷邁進(jìn)。為了實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)，CT Micro 對(duì)從設(shè)計(jì)、制造到測(cè)試的質(zhì)量進(jìn)行了嚴(yán)格的控制。由于我們的旅程從設(shè)計(jì)開(kāi)始，因此在此階段使用 DFMEA 來(lái)理解和識(shí)別設(shè)計(jì)，以便盡早進(jìn)行改進(jìn)。在制造過(guò)程中，使用統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制（SPC）來(lái)監(jiān)控每個(gè)過(guò)程，以嚴(yán)密的 UCL 和 LCL 來(lái)保持過(guò)程控制的嚴(yán)密。這僅允許很小的偏差，確保良好和穩(wěn)定的過(guò)程。在我們的測(cè)試中使用了多個(gè)測(cè)試，以確保測(cè)試程序?qū)⒂行У睾Y選所有缺陷。保持我們對(duì)質(zhì)量CT 的承諾Micro 會(huì)定期執(zhí)行實(shí)時(shí)可靠性 (RTR)，以確保產(chǎn)品符合要求的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。

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